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老化房的机理

日期:2019-06-24 类型:技术中心 

关键词老化,房,的,机理,电子,产品制造,时,存在,设计,

电子产品制造时,存在设计不合理、原材料或技术措施方面的原因导致产品质量问题的2种:第1类产品的性能参数不符合标准,生产的产品不符合使用要求。一般来说,产品的再设计、改善和再选择使用符合要求的部件来解决。第二个范畴是潜在的缺陷。不是一般的测试手段,而是需要在使用过程中慢慢暴露。硅表面污染、组织不稳定、焊接空洞、碎片与管壳热电阻整合不良等。
一般情况下,这样的缺陷需要在部件在额定电力和通常的动作温度下动作后,在运转1000小时左右之后全部激活(露出)。显然,对于每个部件测试1000小时是不现实的,因此必须施加热应力和偏压以加速这种缺陷的早期暴露,例如,。需要进行高温功率应力试验。即,给电子产品施加热、电、机械或多种综合的外部应力,模拟恶劣的工作环境,去除加工应力和残留溶剂等物质,早期发生潜在故障,尽早使产品通过失效浴缸特性初期阶段。进入可靠的稳定阶段。

电子产品的失效曲线如图1所示。
老化后进行电气参数测量,筛选剔除失效或变值的元器件,尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前。
高温老化的原理就是为提高电子产品可靠度和延长产品使用寿命,对稳定性进行必要的考核,以便剔除那些有便剔除那些有早逝缺陷的潜在个体(元器件),确保整机优秀品质和期望寿命。