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什么是与电子设备有关的老化测试?

日期:2019-10-10 类型:技术中心 

关键词老化,测试,

老化是用于检测大量半导体器件中早期故障的公认做法。通常需要使用预期的工作电周期(极端的工作条件)对产品进行电测试,通常在48-168小时的时间段内进行。可替代地,使用热(例如125℃持续168小时)或环境应力筛选(例如从-10℃到70℃以+℃/ mm倾斜的20个循环)。老化将应用于产品制造过程中,以检测由制造实践中的故障引起的早期故障。

通常,最好在测试和更换零件的成本最低的情况下在组件级别进行老化。电路板或组件的老化是困难的,因为不同的组件具有不同的限制。但是,此级别的老化可能会显示无法找到组件老化的故障,例如干焊点或冷焊点以及接触问题。

对于更复杂的设备,使用动态老化,将热应力与输入的动态仿真结合起来以提供最坏情况的工作条件。