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半导体可靠性测试

日期:2019-10-14 类型:技术中心 

关键词可靠性测试,老化测试

半导体器件的可靠性可能与故障率曲线(称为:浴盆曲线)有关。

浴缸曲线

该曲线可分为以下三个区域:
 
早期故障:发生在设备开始使用后的较短时间内
随机故障:发生时间较长
磨损故障:随着设备寿命将尽,故障会增加
“ 早期故障 ”被定义为在启动半导体器件之后的早期阶段发生的故障。此外,随着时间的流逝,早期故障率趋于最小化。对于半导体器件,大多数早期故障是由于生产过程中形成的缺陷和有缺陷的材料所致,这就是半导体测试至关重要的原因。
 
一旦具有潜在缺陷的设备已经发生故障并被移除,就会发生“ 随机故障 ”。在此期间,剩余的高质量设备会稳定运行。在此期间发生的故障通常可以与随机出现的过度压力(例如电涌和软件错误)相关联。
 
“ 磨损失败 ”是由于设备固有的磨损寿命而发生的。当半导体器件进入磨损持续时间时,故障率趋于迅速增加。这受使用条件的影响。
 
因此,对于生产高度可靠的半导体器件,至关重要的是降低早期故障率并确保长寿命和抗磨损故障的耐久性。
 
为了降低早期故障率并提高半导体可靠性,电子测试设备通过使用自动化测试设备来确保半导体器件和样品的产品质量保证。使用该设备,公司可以继续改进质量控制程序以及各种评估程序,包括电子特性测试和老化测试
 
此外,为了在设备的使用寿命内提供重要的产品使用寿命,该公司利用Electron Test设备的ATE系统可以在整个设计和开发阶段确保其测试产品的可靠性。